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1. Identificação
Tipo de ReferênciaArtigo em Revista Científica (Journal Article)
Sitemtc-m16.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador6qtX3pFwXQZsFDuKxG/DpxcT
Repositóriosid.inpe.br/marciana/2004/09.08.14.11   (acesso restrito)
Última Atualização2004:09.08.03.00.00 (UTC) administrator
Repositório de Metadadossid.inpe.br/marciana/2004/09.08.14.11.18
Última Atualização dos Metadados2021:07.28.21.26.30 (UTC) administrator
Chave SecundáriaINPE-11266-PRE/6708
ISBN/ISSN0038-1098
ISSN0038-1098
Chave de CitaçãoFerreiradaSilvaRosRomVejPep:2000:ChAsFr
TítuloCharacterization of asymmetric fragmentation patterns in SFM images of porous silicon
ProjetoCélulas Solares (CELSOL): Desenvolvimento de técncias para obtenção de silício poroso
Ano2000
MêsFeb.
Data de Acesso18 maio 2024
Tipo SecundárioPRE PI
Número de Arquivos1
Tamanho301 KiB
2. Contextualização
Autor1 Ferreira da Silva, A.
2 Rosa, Reinaldo Roberto
3 Roman, L. S.
4 Veje, E.
5 Pepe, I.
Identificador de Curriculo1
2 8JMKD3MGP5W/3C9JJ5D
Grupo1 LAS-INPE-MCT-BR
Afiliação1 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais. Laboratório Associado de Sensores e Materiais (INPE.LAS)
2 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais. Laboratório Associado de Matemática e Computação Aplicada (INPE.LAC)
3 Laboratoy of Applied Physics, Linkoping University
4 Oersted Laboratory, Niels Bohr Institute, Universitetsparken
5 Universidade Federal da Bahia, Laboratório de Propriedades Ópticas, Instituto de Física (UFBA)
Endereço de e-Mail do Autor1 ferreira@las.inpe.br
RevistaSolid State Communication
Volume113
Número12
Páginas703-708
Histórico (UTC)2006-09-28 22:26:01 :: administrator -> sergio ::
2008-01-07 12:53:24 :: sergio -> marciana ::
2008-01-15 12:36:57 :: marciana -> administrator ::
2021-07-28 21:26:30 :: administrator -> marciana :: 2000
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
Tipo do ConteúdoExternal Contribution
Palavras-ChaveMATERIALS AND SENSOR
Semiconductors
Nanofabrications
Crystal structure and symmetry
Optical properties
Band-Gap energy
Si
Photoluminescence
Heterojunction
Luminescence
Emission
Offsets
Porous siliconMATERIAIS E SENSORES
Semicondutores
Nanoprodução
Estrutura e simetria do cristal
Prorpriedades ópticas
Fotoiluminiscencia
Emissão
Silício poroso
ResumoDue to possible technological applications in opto-electronic devices, the interest in characterizing porous silicon structure patterns has recently increased. From scanning force microscopy (SFM) we have obtained images of different samples of porous silicon and applied pattern characterization operators on these matrices. Tn this paper, asymmetric spatial fragmentation in amplitude envelopes of porous silicon samples are characterized by means of a parameter that quantifies the amount of spatial asymmetry in the gradient field. The results show that this method is well suited to characterize silicon porosity quantitatively.
ÁreaFISMAT
Arranjourlib.net > Produção anterior à 2021 > LABAS > Characterization of asymmetric...
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4. Condições de acesso e uso
Idiomaen
Arquivo Alvocharacterization asymmetric.pdf
Grupo de Usuáriosadministrator
marciana
sergio
Visibilidadeshown
Detentor da CópiaSID/SCD
Política de Arquivamentodenypublisher denyfinaldraft24
Permissão de Leituradeny from all and allow from 150.163
5. Fontes relacionadas
Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3ESR3H2
DivulgaçãoWEBSCI; PORTALCAPES; COMPENDEX.
Acervo Hospedeirosid.inpe.br/banon/2003/08.15.17.40
6. Notas
Campos Vaziosalternatejournal archivist callnumber copyright creatorhistory descriptionlevel documentstage doi e-mailaddress format isbn label lineage mark mirrorrepository nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress readergroup rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype typeofwork url versiontype
7. Controle da descrição
e-Mail (login)marciana
atualizar 


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